GB 3444-1982 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理
作者:标准资料网 时间:2024-05-26 08:00:00 浏览:8199
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基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路 |
| 替代情况： | 调整为SJ/T 10740-1996 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1983-10-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 33页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
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